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    Sonda lux y UV para la supervisión de objetos de exposición sensibles a la luz

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  1. Sonda lux y UV pequeña para el uso en vitrinas y piezas de exhibición
  2. Supervisión discreta de obras de exposición sensibles a la luz
  3. Medición lux según la clase de exactitud C conforme a DIN 5032
  4. Rango de medición: Intensidad luminosa 0 … 20.000 Lux; radiación UV 0 … 10.000 mW/m2
  5. Supervisión discreta (con el registrador de datos adecuado) de objetos de exposición sensibles a la luz: con la sonda lux y UV digital con cable insertable.
    Con la sonda lux y UV pequeña (28 x 56 x 15 mm) es posible supervisar de modo confiable los objetos de exposición sensibles a la luz tanto en salas de exposición como en vitrinas.

    El cable suministrado (longitud del cable de 0,6 m) puede reemplazarse por un cable más largo (longitud del cable de 2,5 m), si es necesario (solicitar por separado). También el posible combinar varios cables entre sí hasta una longitud de 10 metros.
     

    Aplicaciones para la sonda lux/UV

    La sonda lux y UV es ideal para el uso en museos, galerías y otras casas de exposiciones. Utilice la precisa sonda lux y UV (con el registrador de datos adecuado) para supervisar la cantidad de luz y radiación UV que inciden sobre las obras expuestas.
     

    Sistema de calibración inteligente

    La sonda lux y UV proporciona la máxima fiabilidad digital en las mediciones. Como el procesamiento de los valores medidos se ejecuta directamente en la sonda, la calidad de la medición no se ve afectada por la longitud de cable de conexión entre el registrador de datos WiFi y la sonda. Para la calibración se puede enviar la sonda sola (sin registrador de datos). 

    1 sonda lux y UV con cable insertable (longitud del cable 0,6 m) y protocolo de calibración.

    Medición Lux

    Rango
    0 hasta 20000 lux
    Exactitud
    ±3 lux o ±3 % del v.m. (relacionado con la referencia DIN 5032-7 clase L)
    DIN 5032-7 Clase C.

    UV

    Rango
    0 hasta +10000 mW/m²
    Exactitud
    ±5 mW/m² o ±5 % del v.m. (relacionado con la referencia externa)